THERMAL SHOCK TEST CHAMBER

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LAP可靠性设备,适用于样品的温度环境试验,通过使温度变化很短来施加样品的快速温度应力,适用于半导体和小型/大型LCD / OLED等中小型电气/电子部件。


  • 设备参数
Description General specification
Type 3Zone Damper Type / 2Zone Elevator Type
Temp. Range -60℃ ~ 150℃
Temp. rising/falling time 5, 10, 15分以内
Temp. Uniformity ±5℃
Cooling Type 水冷式/风冷式
Applied Sample Small Sample / Semiconductor 等