环境试验分析

 > 产品介绍 > 环境试验分析


WALK-IN (ROOM) CHAMBER


恒温,恒湿,低温,老化等大型室内按照客户需求的构造可制作的设备。

  • 设备参数
Description General specification
Temp. Range -40℃ ~ 80℃
Temp. Uniformity ±2℃
Humi. Range 30 ~ 95%
Humi. Distribution ±3%
Cooling Type 水冷式/风冷式
Applied Sample LCD / OLED / MOBILE PANEL 等

AGING CHAMBER


通过LCD/OLED模块在40~60℃高温老化选出不良情况和质量特性的设备。

  • 设备参数
Description General specification
Type Rack Type, Batch Type
Temp. Range 40℃ ~ 60℃
Temp. Uniformity ±3℃
Control Display Touch Panel / Manual Controller
Applied Sample LCD / OLED

THERMAL SHOCK TEST CHAMBER


LAP可靠性设备,适用于样品的温度环境试验,通过使温度变化很短来施加样品的快速温度应力,适用于半导体和小型/大型LCD / OLED等中小型电气/电子部件。

  • 设备参数
Description General specification
Type 3Zone Damper Type / 2Zone Elevator Type
Temp. Range -60℃ ~ 150℃
Temp. rising/falling time 5, 10, 15分以内
Temp. Uniformity ±5℃
Cooling Type 水冷式/风冷式
Applied Sample Small Sample / Semiconductor 等

TEMP & HUMID CHAMBER


LCD / OLED模块等可提供温度和湿度等环境测试条件的可靠的设备。适用于LCD面板,移动模块,半导体等中小型电气/电子零件。

  • 设备参数
Description General specification
Type 1 ZONE / 2 ZONE
Temp. Range -40℃ ~ 100℃
Temp. Rrising 1℃ / min (STANDARD)
Temp. Uniformity ±2℃
Humid. Range 30 ~ 98%
Humi. Rising 3% / min (STANDARD)
Humi. Distribution ±3%
Cooling Type 水冷式/风冷式
Applied Sample LCD / OLED / MOBILE PANEL / Etc

OVEN (BAKE, CLEAN, MULTI)


作为专为部件或者模块进行干燥,烘烤,纠正的设备,可进行高温产品的耐久性和可靠性测试。

  • 设备参数
Description General specification
Type 1Zone, 2Zone, 4Zone
Temp. Range 40℃ ~ 500℃
Temp. Uniformity ±2%
Applied Sample LCD / OLED / 半导体,电子电器等生产现场。
  • 产品咨询
联络处 Tel : +82-31-267-5060, 5064
Fax : +82-31-377-7852, 7854
E-mail :  sales@susunggn.com
学院地址 京畿道华城市东滩工业区9路9-7号